X-Ray Diffraction for Materials Research

EAN/GTIN:: 9781774635933
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Zuletzt aktualisiert: 14. November 2026, 14:21 Uhr

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Produktbeschreibung

X-ray diffraction is a useful and powerful analysis technique for characterizing crystalline materials commonly employed in MSE, physics, and chemistry. This informative new book describes the principles of X-ray diffraction and its applications to materials characterization. It consists of three parts. The first deals with elementary crystallography and optics, which is essential for understanding the theory of X-ray diffraction discussed in the second section of the book. Part 2 describes how the X-ray diffraction can be applied for characterizing such various forms of materials as thin films, single crystals, and powders. The third section of the book covers applications of X-ray diffraction. The book presents a number of examples to help readers better comprehend the subject. X-Ray Diffraction for Materials Research: From Fundamentals to Applications also provides background knowledge of diffraction to enable nonspecialists to become familiar with the topics covers the practical...