Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective

EAN/GTIN:: 9780442006433
Hersteller-Nr.:: 9780442006433
Kategorie:: Gedruckte Bücher
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Zuletzt aktualisiert: 14. November 2026, 13:50 Uhr

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Produktbeschreibung

Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a